[发明专利]用于电阻精密检测的同源双路同步采样电路及其方法在审

专利信息
申请号: 202111585388.2 申请日: 2021-12-22
公开(公告)号: CN116338308A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 余莉;孔祥苓;马骥;王洋;冯涌泉;俞波;王志高;马子懿;李超;郭双红 申请(专利权)人: 航天科工惯性技术有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明一种应用于电阻精密检测的同源双路同步采样方法,对电路中的两个电压信号进行同步采样和数据处理,实现基于基准测量的双通道同步采集。本发明还提供同源双路同步采样电路,包括同源双路检测电路,同步A/D采样电路和数据处理电路;同源双路检测电路输出两路电压进入同步A/D采样电路,数据处理电路产生一组控制信号控制同步A/D采样电路,同步A/D采样电路得到的两路同步A/D转换数据在数据处理电路进行处理,处理后的数据再与上位机进行交互;数据处理电路根据同步A/D采样电路对VN1和VN2转换得到数字量和同源双路检测电路的拓扑结构形式反算出待测电阻Rx的值,再与上位机进行交互。本发明可以充分降低外来干扰和电源波动导致的检测误差。
搜索关键词: 用于 电阻 精密 检测 同源 同步 采样 电路 及其 方法
【主权项】:
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