[发明专利]一种微细颗粒指定层位的离子探针样品靶制备方法在审
| 申请号： | 202111585756.3 | 申请日： | 2021-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN114264846A | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 李瑞瑛 | 申请（专利权）人： | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 主分类号： | G01Q90/00 | 分类号： | G01Q90/00;G01N23/046;G01N1/28;G01N1/32 |
| 代理公司： | 成都宏田知识产权代理事务所(普通合伙) 51337 | 代理人： | 杨伟 |
| 地址： | 100191 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微细颗粒指定层位的离子探针样品靶制备方法，包括结合微米CT对样品颗粒内部结构的三维可视化分析，确定了目标分析对象所在层位，便于微小样品指定层位的样品靶制备。本发明减少了离子探针传统样靶的环氧树脂使用量，降低了样品靶的放气率，有利于提高样品分析腔的真空度；结合微米CT对样品颗粒内部结构的三维可视化分析，确定了目标分析对象所在层位，便于微小样品(如，月壤颗粒等)指定层位的样品靶制备；适用于微细样品单一颗粒的制备需求，便于微小样品的单独储存和离子探针分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微细 颗粒 指定 层位 离子 探针 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
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