[发明专利]光学元件强激光损伤特性的无损检测与评价方法在审
| 申请号： | 202111588367.6 | 申请日： | 2021-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN114324329A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 巴荣声;李杰;周信达;丁磊;郑垠波;徐宏磊;唐晓东 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/88;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 621900*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了光学元件强激光损伤特性的无损检测与评价方法，旨在解决现有技术不能通过无损检测评价光学元件激光损伤特性的难题。本发明包括：通过实验获得光学元件的无损检测数据以及强激光作用下发生损伤的激光参数；将无损检测数据与损伤测试结果作为特征量，使用深度学习方法，根据无损检测数据、激光参数及损伤测试结果，获得光学元件激光损伤特性的检测评价模型；将待检测的光学元件进行无损检测，将获得的无损检测数据和激光参数作为检测评价模型的输入量，从而获得该光学元件的激光损伤特性检测结果，实现强激光损伤特性的无损检测与评价。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 元件 激光 损伤 特性 无损 检测 评价 方法 | ||
【主权项】：
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