[发明专利]测量方法、测量系统、介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202111589474.0 申请日: 2021-12-23
公开(公告)号: CN116336985A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 逯穆达;赵文兵;张佳慧;孙雅明 申请(专利权)人: 上海电气电站设备有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02;G01B21/22;G01B21/24
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 王国祥
地址: 201108 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种测量方法、测量系统、介质及电子设备,所述测量方法包括:在测量端旋转的过程中,获取测量端的旋转角度;当测量端的旋转角度达到预设角度值时,通过第一位移传感器和第二位移传感器分别获取测量端的轴向数据和径向数据,并通过第三位移传感器获取轴系固定端末端的轴向窜动量,其中,预设角度值的数量至少为两个,第一位移传感器和第二位移传感器通过固定工装固定设置于靠背轮,第三位移传感器通过固定支架固定设置于轴系固定端的末端;根据轴向数据、径向数据、轴向窜动量、靠背轮的径向尺寸以及调整点的位置参数获取调整点的调整参数。所述测量方法基本无需人工参与,效率较高。
搜索关键词: 测量方法 测量 系统 介质 电子设备
【主权项】:
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