[发明专利]一种提高光谱成像仪精确度的装置、系统、方法及介质在审
| 申请号： | 202111591788.4 | 申请日： | 2021-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN114414049A | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 杨斌;张军强;李先峰;辛久元 | 申请（专利权）人： | 长光驰宇科技（长春）有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李泽艳 |
| 地址： | 130000 吉林省长春市经济开发区自*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种提高光谱成像仪精确度的装置、系统、方法及介质，涉及光学领域。该装置包括：外部计算机、光谱成像仪、光谱辐亮度计、参考光源、目标光源。该装置中外部计算机与光谱成像仪以及光谱辐亮度计连接，用于当参考光源入射光谱成像仪时，根据光谱成像仪的响应值、增益、积分时间以及通过光谱辐亮度计探测出的光谱辐亮度标定光谱成像仪的响应特性，并将光谱成像仪的响应特性传输给光谱成像仪，光谱成像仪中的计算单元用于当目标光源入射时光谱成像仪时根据光谱成像仪的响应特性获取目标光源的光谱辐亮度。通过本申请的装置能够将目标光源的光谱辐亮度计算出来，完成对目标光源辐射信息的复原，提高光谱成像仪的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 光谱 成像 精确度 装置 系统 方法 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长光驰宇科技（长春）有限公司，未经长光驰宇科技（长春）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111591788.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
