[发明专利]一种基于可微分神经网络架构搜索的缺陷检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111598119.X 申请日: 2021-12-24
公开(公告)号: CN114299000A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 吴晓军;瞿豪豪 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学(深圳)
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 刘芳
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于可微分神经网络架构搜索的缺陷检测方法及系统。所述方法,将待检测样本和正常背景样本输入缺陷检测模型中,得到待检测样本的缺陷检测结果;其中,缺陷检测模型包括依次连接的训练好的骨干网络、正常样本参考模块、多尺度融合模块和分割网络;骨干网络是采用可微分神经网络架构进行搜索得到的;正常样本参考模块输出多尺度对比参考图,为缺陷检测过程提供正常样本参考机制;多尺度融合模块基于多尺度信息融合机制得到待检测样本的融合特征图;分割网络基于多尺度对比参考图对待检测样本的融合特征图进行分割,得到待检测样本的缺陷检测结果。本发明能实现对产品缺陷的自动检测,提高检测的准确度和泛化性。
搜索关键词: 一种 基于 微分 神经网络 架构 搜索 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
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