[发明专利]一种高精度同步扫描光学系统装调精度评估方法有效
| 申请号： | 202111598695.4 | 申请日： | 2021-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN114383817B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 吴云;华宝成;尹芳;贺盈波;祝浩;朱飞虎;郑岩;苏畅;郭绍刚;王立;何英姿 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B26/10 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 任林冲 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高精度同步扫描光学系统装调精度评估方法，属于光学系统高精度装调领域。通过同步扫描镜的旋转，使得激光光源投射在屏上不同的位置，记录扫描镜处于不同角度位置时的探测器上像点的像面坐标；同时根据小孔成像原理将物方光点投影至探测器，得到像方光点的横向坐标，再通过直线拟合，得到直线斜率，进而可得到该斜率的反正切角度，该角度即为反映同步扫描光学系统装调状态的量。本发明有效解决了同步扫描光学系统装调状态评估步骤复杂、效率低下的问题，具有操作简单、易于实施的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 同步 扫描 光学系统 精度 评估 方法 | ||
【主权项】：
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