[发明专利]发光器件衰减速率的测试方法和筛选方法在审
| 申请号： | 202111611835.7 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN116367681A | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 林雄风 | 申请（专利权）人： | TCL科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | H10K71/70 | 分类号： | H10K71/70;H10K50/115 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 肖珍 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种发光器件衰减速率的测试方法和筛选方法，该测试方法通过提供含有发光层的材料、载流子传输层的材料和自由基指示剂的待测溶液，然后利用光照激发发光层中的量子点并与载流子传输层的材料反应产生自由基，通过自由基指示剂表征待检测溶液中自由基的浓度，从而实现量子点发光二极管衰减速率的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 器件 衰减 速率 测试 方法 筛选 | ||
【主权项】：
暂无信息
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