[发明专利]一种芯片测试方法、系统和可读存储介质在审
| 申请号： | 202111611850.1 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN116400188A | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 贾新月;生志晋;王冠;黄治方 | 申请（专利权）人： | 思特威（上海）电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人： | 李森 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国（上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试方法、系统和可读存储介质，芯片测试方法包括：开启控制终端的主控程序以及测试终端的外部启动程序；外部启动程序获取至少一个待测芯片通道对应的芯片通道编码，并基于进程控制编码启动对应的测试程序；外部启动程序记录并将对应的测试通道编码发送至测试程序；测试程序基于测试通道编码选定对应的测试盒，以实现芯片通道编码、进程控制编码、测试地址编码及测试通道编码的匹配；主控程序获取测试程序提供的测试地址编码以进行通讯。本申请提供的芯片测试方法、系统和可读存储介质，通过一个控制终端控制多个测试程序进行测试不仅能极大减少设备数量节约空间，提高设备的利用率，还大大降低了芯片测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 系统 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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