[发明专利]一种多功能集成电路实验测试设备在审
| 申请号： | 202111619540.4 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN114089169A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 熊峰;梁青武;冯兵;鲁婷婷;徐滔;裴德杨;周澳 | 申请（专利权）人： | 上海菱沃铂智能技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G09B23/18 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 赵志远 |
| 地址： | 200070 上海市静*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多功能集成电路实验测试设备，该设备包括主机、受测子板以及分别连接在主机和受测子板之间的可调电压源模块、可调电子负载模块、波形发生器模块、矢量测试模块、串口收发模块、电压检测模块、电流检测模块、电阻测试仪模块、示波器模块、逻辑分析模块；所述的主机通过通信控制对应模块在受测子板上完成实验操作，模块把受测子板上的测试数据上传给主机，主机完成数据分析处理。与现有技术相比，本发明具有集多种参数测量、多种实验测试于一体，从实验到应用的每个环节都清晰可见，使之非常适用于集成电路实验教学，足以体现出测试的本质，使用户达到知其然也知其所以然的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多功能 集成电路 实验 测试 设备 | ||
【主权项】：
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