[发明专利]一种固态硬盘老化数量测试装置在审
| 申请号： | 202111621888.7 | 申请日： | 2021-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN114443384A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 王欣 | 申请（专利权）人： | 深圳市德明利技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种固态硬盘老化测试装置，包括：开关电源、拓展模块和固态硬盘；所述拓展模块包括第一端口、第二端口和5V电源模块；所述开关电源的12V输出端连接所述第一端口；所述第一端口连接所述5V电源模块，所述5V电源模块用于将所述12V电压转换为5V电压，并通过所述第二端口输出所述5V电压至所述固态硬盘；所述固态硬盘还连接主板以接收数据传输。通过在现有技术常规方案的基础上增加一个5V电源模块，可在不变动现有开关电源型号的情况下提升了单次固态硬盘的老化数量以及老化准确率，即提高了产能也降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 硬盘 老化 数量 测试 装置 | ||
【主权项】：
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