[发明专利]芯片静态工作自动化测试系统及方法在审
| 申请号： | 202111645802.4 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114487768A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 朱珂;王永胜;王盼;刘长江;毛英杰 | 申请（专利权）人： | 井芯微电子技术（天津）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京植德律师事务所 11780 | 代理人： | 唐华东 |
| 地址： | 300457 天津市滨海新区经济技术开发区*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及芯片静态工作自动化测试系统及方法。该测试系统包括控制处理器和电源反馈控制系统及软件定义时钟系统；电源反馈控制系统包括：用于输出电压和电流给被测芯片的电源电路，和用于监测被测芯片的阻抗、电压和电流并反馈给控制处理器的监测功能电路；软件定义时钟系统，用于输出时钟信号给被测芯片；控制处理器，用于配置电源电路、监测功能电路和软件定义时钟系统，以及接收监测功能电路反馈的数据。该测试系统可替代传统的交换芯片测试平台，不需要使用信号发生器、直流电源分析仪、万用表等测试仪器，具有容易配置、操作简单、成本低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 静态 工作 自动化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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