[发明专利]量子芯片的性能测试方法、装置及量子计算机系统在审
| 申请号： | 202111647493.4 | 申请日： | 2021-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN116400189A | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 李泽东;赵杨超;孔伟成 | 申请（专利权）人： | 本源量子计算科技（合肥）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06N10/40 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市合肥市高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种量子芯片的性能测试方法、装置以及量子计算机系统，所述量子芯片的性能测试方法包括：提供一量子芯片，所述量子芯片上n个量子比特均处于初态；在不同数值的m下执行将n个操作序列同时分别作用于所述n个量子比特上并获取每个所述操作序列的保真度；获取每个操作序列中的与单比特Clifford门的保真度相关的参数；获取每个操作序列中的所有所述单比特Clifford门的平均保真度；基于所述单比特Clifford门的平均保真度表征所述量子芯片的性能。本发明的技术方案测量的单比特Clifford门的平均保真度能够表征量子芯片的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 芯片 性能 测试 方法 装置 计算机系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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