[发明专利]一种通用光电元器件分析方法在审
| 申请号： | 202111658712.9 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114337839A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 潘时龙;刘世锋;吴鲁刚;傅剑斌;薛敏;李树鹏 | 申请（专利权）人： | 苏州六幺四信息科技有限责任公司;南京航空航天大学;苏州六幺六光电科技有限责任公司 |
| 主分类号： | H04B10/548 | 分类号： | H04B10/548;G01R25/00 |
| 代理公司： | 南京专信知识产权代理有限公司 32605 | 代理人： | 郝晓燕 |
| 地址： | 215558 江苏省苏州市常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的一种通用光电元器件分析方法，属于光电器材测量技术领域，测试光光器件时，先后测试无待测件和加入待测件的系统响应，通过计算可得到待测光光器件的幅相响应，本发明可测试光‑电转换、电‑光转换、光‑光变换等芯片、模块以及系统的幅度相位参数，可以广泛应用于光通信、激光雷达、量子通信、光传感以及微波光子等领域，具有高测试效率、大动态范围、高频率分辨率、应用广泛等优势。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用 光电 元器件 分析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州六幺四信息科技有限责任公司;南京航空航天大学;苏州六幺六光电科技有限责任公司，未经苏州六幺四信息科技有限责任公司;南京航空航天大学;苏州六幺六光电科技有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111658712.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
