[发明专利]一种频响分析仪超低频电压参数的测量装置及测量方法在审
申请号: | 202111659784.5 | 申请日: | 2021-12-30 |
公开(公告)号: | CN114397502A | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 康焱;朱珠;张力丹;焦玉民 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 葛鹏 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种频响分析仪超低频电压参数的测量装置及测量方法,该测量装置包括:超导器件,置于储存有液氦的低温容器中;微波驱动装置,所述微波驱动装置的输出端连接到所述超导器件的输入端;电流驱动装置,所述电流驱动装置的输出端连接到所述超导器件低温下的输入端;频响分析仪,所述超导器件的输出端用低温引线从所述低温容器中引出并连接到所述频响分析仪的输入端。所述频响分析仪超低频电压参数的测量装置及测量方法采用超导器件产生量子化的超低频电压信号,为频响分析仪提供精确的标准信号,从而实现频响分析仪超低频率信号的精确测量,解决了对于频响分析仪低至毫赫兹的超低频电压的测量尚没有完善方法的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 分析 低频 电压 参数 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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