[发明专利]一种原位施加单轴应变测量磁性的装置及方法在审
| 申请号： | 202111665694.7 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114296016A | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 乔凯明;张虎;于子原;梁宇航;陈浩东;丛君状 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G05D15/00 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波;于春晓 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种原位施加单轴应变测量磁性的装置及方法，属于磁性测量技术领域。该装置由放置样品的样品仓和能够深入样品仓的加压螺栓构成，通过转动螺栓将应变施加到样品上，样品上部和下部分别设置垫片。该装置通过调整样品仓和加压螺栓的半径可以调整样品尺寸。通过调整加压螺栓的旋转圈数即可调整样品所受的应变。本发明的原位施加单轴应变测量磁性的装置是一种可以在样品上施加单轴应变测量磁性的装置。该装置有助于研究单轴压力对样品磁性的影响，对认识磁性材料中多个有序参量的相互作用机制具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 原位 施加 应变 测量 磁性 装置 方法 | ||
【主权项】：
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