[发明专利]测试设备及温度传感器的测试方法在审
申请号: | 202111673847.2 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN114414095A | 公开(公告)日: | 2022-04-29 |
发明(设计)人: | 李翔;康海娟;张广东 | 申请(专利权)人: | 通富微电子股份有限公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00;G01J5/90 |
代理公司: | 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 | 代理人: | 李明;赵吉阳 |
地址: | 226004 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供一种测试设备及温度传感器的测试方法,该测试设备包括测试基板和控制单元;测试基板上设置有标准座以及多个测试座,标准座设置有标准测试电路,测试座设置有实际测试电路,控制单元分别与标准测试电路和实际测试电路电连接;标准测试电路,用于测试标准座上标准温度传感器在当前环境温度下的标准电阻值;实际测试电路,用于测试测试座上待测温度传感器在当前环境温度下的实际电阻值;控制单元,用于根据标准电阻值和实际电阻值计算得出待测温度传感器在预设温度下的实际标准电阻值。该测试设备在当前环境温度下就可以获得待测温度传感器在预设温度下的实际标准电阻值,测试方便快捷,可实现稳定量产。 | ||
搜索关键词: | 测试 设备 温度传感器 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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