[实用新型]一种MEMS半导体器件有效
申请号: | 202120013118.3 | 申请日: | 2021-01-05 |
公开(公告)号: | CN214611513U | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 陈旭;吴庆才 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区纳米产业技术研究院有限公司 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81B7/02 |
代理公司: | 苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人: | 唐静芳 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型属于半导体封装技术领域,尤其涉及一种MEMS半导体器件。该半导体器件包括衬底层、依次镀制在所述衬底层上的铝垫层、TiN过渡层、Ti层和TiN层,形成Al/TiN/Ti/TiN的膜层结构。本实用新型通过在铝垫层上增加TiN过渡层,消除了Ti对Al退火的影响,解决了退火后铝垫层无麻点的问题,提高了铝垫的打线成功率。 | ||
搜索关键词: | 一种 mems 半导体器件 | ||
【主权项】:
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