[实用新型]一种共存测试架构以及共存测试系统有效

专利信息
申请号: 202120090693.3 申请日: 2021-01-13
公开(公告)号: CN214067229U 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 周洪;张成;张祥;郑雷 申请(专利权)人: 合肥移瑞通信技术有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/18;G01R29/08;G01R29/10
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 余菲
地址: 230088 安徽省合肥市高新区习友路33*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本申请实施例提供了一种共存测试架构以及共存测试系统,包括:屏蔽箱;参考天线,位于所述屏蔽箱的指定位置上;测试天线,可移动的设置于所述屏蔽箱上;所述屏蔽箱上标记有隔离度刻度;所述隔离度刻度表征该隔离度刻度对应的测试天线,位于该隔离度刻度对应的位置时,相对于所述参考天线的隔离度,且参考天线和测试天线位于屏蔽箱内。这样,在进行共存测试时,工程师即可根据需要,将测试的参考天线移动至所需的隔离度刻度对应的位置处,从而实现在进行共存测试时,控制两天线的隔离度,进而模拟出耦合情况下不同隔离度下共存测试的场景,提高测试效果。
搜索关键词: 一种 共存 测试 架构 以及 系统
【主权项】:
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