[实用新型]一种共存测试架构以及共存测试系统有效
申请号: | 202120090693.3 | 申请日: | 2021-01-13 |
公开(公告)号: | CN214067229U | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 周洪;张成;张祥;郑雷 | 申请(专利权)人: | 合肥移瑞通信技术有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/18;G01R29/08;G01R29/10 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 余菲 |
地址: | 230088 安徽省合肥市高新区习友路33*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请实施例提供了一种共存测试架构以及共存测试系统,包括:屏蔽箱;参考天线,位于所述屏蔽箱的指定位置上;测试天线,可移动的设置于所述屏蔽箱上;所述屏蔽箱上标记有隔离度刻度;所述隔离度刻度表征该隔离度刻度对应的测试天线,位于该隔离度刻度对应的位置时,相对于所述参考天线的隔离度,且参考天线和测试天线位于屏蔽箱内。这样,在进行共存测试时,工程师即可根据需要,将测试的参考天线移动至所需的隔离度刻度对应的位置处,从而实现在进行共存测试时,控制两天线的隔离度,进而模拟出耦合情况下不同隔离度下共存测试的场景,提高测试效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 共存 测试 架构 以及 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥移瑞通信技术有限公司,未经合肥移瑞通信技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202120090693.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型SMT贴片的焊点检测装置
- 下一篇:一种空气柜