[实用新型]一种半导体发光二极管芯片光型检测装置有效

专利信息
申请号: 202120105774.6 申请日: 2021-01-15
公开(公告)号: CN213874910U 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 周作智 申请(专利权)人: 深圳市未历科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518125 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种半导体发光二极管芯片光型检测装置,包括底座、支撑座、上固定架和检测机构,所述底座的底端固定连接有支撑座,所述支撑座的顶端固定连接有上固定架,且上固定架的底端中心位置处固定连接有检测机构,所述上固定架的顶端对称开设有两组滑动槽,且两组滑动槽之间套设连接有支撑架,且支撑架的下端外部套设有折叠防护罩,两组所述滑动槽的底端一侧皆焊接连接有滑槽,且滑槽的内部套设有滑动杆,两组所述滑动杆的外部一端皆套设有弹簧;该装置通过滑动槽、支撑架、折叠防护罩、滑槽、滑动杆、弹簧和限位槽的相互配合,避免了现有的磁铁固定的方式存在的收纳便捷性差的问题。
搜索关键词: 一种 半导体 发光二极管 芯片 检测 装置
【主权项】:
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