[实用新型]一种半导体发光二极管芯片光型检测装置有效
| 申请号： | 202120105774.6 | 申请日： | 2021-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN213874910U | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 周作智 | 申请（专利权）人： | 深圳市未历科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518125 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体发光二极管芯片光型检测装置，包括底座、支撑座、上固定架和检测机构，所述底座的底端固定连接有支撑座，所述支撑座的顶端固定连接有上固定架，且上固定架的底端中心位置处固定连接有检测机构，所述上固定架的顶端对称开设有两组滑动槽，且两组滑动槽之间套设连接有支撑架，且支撑架的下端外部套设有折叠防护罩，两组所述滑动槽的底端一侧皆焊接连接有滑槽，且滑槽的内部套设有滑动杆，两组所述滑动杆的外部一端皆套设有弹簧；该装置通过滑动槽、支撑架、折叠防护罩、滑槽、滑动杆、弹簧和限位槽的相互配合，避免了现有的磁铁固定的方式存在的收纳便捷性差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 发光二极管 芯片 检测 装置 | ||
【主权项】：
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