[实用新型]光耦高压测试机构有效
申请号: | 202120170832.3 | 申请日: | 2021-01-22 |
公开(公告)号: | CN214669404U | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 吴成君;林强 | 申请(专利权)人: | 福州派利德电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R1/04 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 陆帅;蔡学俊 |
地址: | 350012 福建省福州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种光耦高压测试机构,包括底板,底板上设有用以输送光耦的倾斜通道,通道的左右两侧对称设有测试爪组件,测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚。该光耦高压测试机构的结构简单,能够配合高压仪测试光耦耐压值,测试时测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚,测试方便,效率高。 | ||
搜索关键词: | 高压 测试 机构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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