[实用新型]一种通用激光扫描测量支架结构有效

专利信息
申请号: 202120330216.X 申请日: 2021-02-05
公开(公告)号: CN214121075U 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 张涛;徐思晗 申请(专利权)人: 上海日晗精密机械股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01D11/30
代理公司: 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 代理人: 方燕娜;王雯婷
地址: 201708 上海市青*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及机械技术领域,具体地说是一种通用激光扫描测量支架结构。测量支架导轨一和测量支架导轨二安装在测量支架基座上,扫描支架一和扫描支架二安装在测量支架导轨一上,扫描支架三和扫描支架四安装在测量支架导轨二上,扫描支撑件一、扫描支撑件二、扫描支撑件三、扫描支撑件四分别依次安装在扫描支架一、扫描支架二、扫描支架三和扫描支架四的顶部。本实用新型同现有技术相比,解决了没有专用的扫描支架的问题,特别是通过正方体基座保证支架稳定,导轨交叉安装在测试支架基座四角,支架活动安装在测量支架导轨上,可以对不同形状、尺寸、复杂表面的物体进行全方位和灵活的定位,使整个测量过程方便,稳定满足多种扫描测量定位需求。
搜索关键词: 一种 通用 激光 扫描 测量 支架 结构
【主权项】:
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