[实用新型]一种用于芯片可靠性封装焊接或退火的真空共晶设备有效

专利信息
申请号: 202120364430.7 申请日: 2021-02-10
公开(公告)号: CN212823567U 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 邓燕;张延忠;赵永先 申请(专利权)人: 北京中科同志科技股份有限公司
主分类号: B23K37/00 分类号: B23K37/00;C21D1/26;H01L21/324;H01L21/60;H01L21/67
代理公司: 北京佐行专利代理事务所(特殊普通合伙) 11683 代理人: 王二娟;王占愈
地址: 100015 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开一种用于芯片可靠性封装焊接或退火的真空共晶设备,包括真空机体和冷却管道。所述真空机体包括壳体和载台,所述壳体顶部设置有安装口,所述载台连接在所述壳体上,且覆盖所述安装口;所述壳体和所述载台之间形成加热腔。所述冷却管道贯穿所述真空机体设置,且所述冷却管道位于所述加热腔内的管段和所述载台相接触;其中,所述冷却管道仅一端通过固定结构固定。冷却管路在炉腔内加热过程中逐渐变长,在炉腔内冷却过程中逐渐变短,对冷却管道一端进行固定,另一端可活动连接,冷却管道的轴向变化量可通过活动连接端释放,使冷却管道不用通过径向释放变量,从而冷却管道则在加工过程中可一直与载台贴合,冷却效果好。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 可靠性 封装 焊接 退火 真空 设备
【主权项】:
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