[实用新型]一种电子元器件耐压测试装置有效
| 申请号： | 202120455951.3 | 申请日： | 2021-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN214895619U | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 潘君威 | 申请（专利权）人： | 万载昌圣科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 336100*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子元器件耐压测试装置，包括底座，底座上表面的中端固定连接有壳体，壳体的右侧开设有测试腔，测试腔底部的中端固定连接有底板，底板正面的左右两侧均开设有滑槽，滑槽外侧的中端固定连接有电动伸缩杆，电动伸缩杆的伸缩端固定连接有滑块，滑块上表面的中端固定连接有夹臂，夹臂内侧的上端固定连接有夹块，夹块的内侧固定连接有绝缘块，底板上表面的中端固定连接有放置台，测试腔顶部的中端固定连接有测试器本体。本实用新型设置了密封门、电动伸缩杆、放置台和绝缘块，达到了安全性高的目的，解决了现有的电子元器件耐压测试装置安全性较差，导致其使用时易产生危险，影响测试安全的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 耐压 测试 装置 | ||
【主权项】：
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