[实用新型]一种基于磁阻原理涂层测厚仪有效
申请号: | 202120685226.5 | 申请日: | 2021-04-02 |
公开(公告)号: | CN214583023U | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 陈小龙;冯学芳;孙树渝;杨莉;廖琴 | 申请(专利权)人: | 里博新仪精密电子(重庆)有限公司 |
主分类号: | G01B7/06 | 分类号: | G01B7/06 |
代理公司: | 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 50221 | 代理人: | 袁茹坤 |
地址: | 401122 重庆市*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种基于磁阻原理涂层测厚仪,包括测厚仪本体,测厚仪本体内设有内腔,内腔内安装有能转动的轴杆,轴杆上绕有螺旋齿,每相邻的两个螺旋齿之间形成螺旋通道,滑腔内安装能滑动的滑块,线路绕在螺旋通道内,测厚仪本体设有连通滑腔和内腔的缺口,线路的首端从螺旋通道的首端伸出连接测厚仪本体,线路的尾端从螺旋通道的尾端伸出穿过滑腔和缺口连接探头。本实用新型利用磁阻原理采集信息然后通过线路将信号传递给测厚仪本体,使用前,线路绕在位于内腔内的螺旋通道内,同时线路的尾端从缺口伸出连接探头,从而将线路收纳,当需要使用时,通过拉动探头将位于螺旋通道的线路从螺旋通道不断的拉出。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 磁阻 原理 涂层 测厚仪 | ||
【主权项】:
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