[实用新型]具有碟型反射面的天线测量系统有效

专利信息
申请号: 202120727424.3 申请日: 2021-04-09
公开(公告)号: CN215493848U 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 周锡增;邱志伟;林昭和 申请(专利权)人: 周锡增
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R29/08
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 侯奇慧
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种天线测量系统,包含一天线阵列、一反射碟面阵列以及一测量面。天线阵列包含呈直线排列的多个天线单元;上述天线单元中任何相邻两天线单元相隔一预定间距,且上述天线单元中每一天线单元具有一辐射体以及一馈入点。反射碟面阵列包括至少一反射碟面,沿着一宽度或高度方向排列,反射碟面阵列用以根据天线阵列发出的信号产生一反射信号。待测天线在测量面用以对反射信号进行一测量操作。
搜索关键词: 具有 碟型 反射 天线 测量 系统
【主权项】:
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