[实用新型]一种半导体设备用测试机构有效
申请号: | 202120813696.5 | 申请日: | 2021-04-21 |
公开(公告)号: | CN215180674U | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | 宋文亮 | 申请(专利权)人: | 天津鹏宏金属制品有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G05B19/05 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300000 天津市静*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种半导体设备用测试机构,包括底座、立柱、顶板、放置台和万用表,所述底座顶部通过安装槽安装有立柱且立柱顶部焊接有顶板,所述顶板底部通过螺栓安装有电动位移滑台且电动位移滑台的位移端底部连接有伺服电缸,所述伺服电缸的动力输出端连接有固定框板,所述固定框板内顶部通过固定座安装有转动电机,所述转动电机的动力输出端贯穿固定框板且底部连接有机械手本体,所述立柱一端焊接有导轨。该新型能方便带动机械手水平竖直移动和转动,从而对半导体芯片进行上下料,测试用的平台能方便在不使用时进行收合,具备能方便对测试用电器的供电线进行导向的结构,适合广泛推广使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 备用 测试 机构 | ||
【主权项】:
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