[实用新型]一种微电子封装剪切强度精确测量装置有效

专利信息
申请号: 202120890002.8 申请日: 2021-04-23
公开(公告)号: CN215179306U 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 陈刚;林强;冯少武;梅云辉;王强;徐仲斌 申请(专利权)人: 凯尔测控技术(天津)有限公司;天津大学;天津工业大学
主分类号: G01N3/24 分类号: G01N3/24;G01N3/06;G01N3/04
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 琪琛
地址: 300350 天津市津南区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型属于电子封装测试技术领域,公开了一种微电子封装剪切强度的精确测量装置,包括粘结强度剪切试验机构和双轴引伸计;粘结强度剪切试验机构包括两根具有反向螺纹的丝杠,两根所述丝杠连接有两块横梁,两块横梁分别连接有剪切夹具固定夹头和剪切夹具推头,剪切夹具固定夹头上表面用于固定电子封装试样的基板,剪切夹具推头用于推动基板上固定的电子元件;双轴引伸计放置在试样上,其四个标距杆中的一个抵在电子元件表面,另外三个均抵在基板表面。本实用新型将双轴引伸计放置在被测量的电子封装试样上,在进行剪切测试时双轴引伸计标距杆的杆支点距离会发生变化,从而得到精确变形数值;还可根据不同力下变形的不同,分析焊料的变形能力。
搜索关键词: 一种 微电子 封装 剪切 强度 精确 测量 装置
【主权项】:
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