[实用新型]一种存储芯片晶元放大检测仪器

摘要

本实用新型提供一种存储芯片晶元放大检测仪器，属于存储芯片技术领域，该存储芯片晶元放大检测仪器包括底座，底座的上端开设有矩形槽，矩形槽的上侧设置有检测板，底座的侧端固定连接有安装块；移动观测台，移动观测台设置于安装块的一侧，移动观测台的上端和下端分别固定连接有目镜和放大镜；上升机构，上升机构设置于矩形槽内并与检测板连接以实现检测板的升降；以及移动机构，移动机构与移动观测台连接以实现移动观测台的上下移动，本装置通过上升机构可以移动检测板的位置，方便使用者对存储芯片进行打光，同时使用者可以根据移动观测台的移动调整观察高度，使得观察存储芯片更加方便仔细。