[实用新型]用于银浆与基体间接触电阻测试的探头以及测试装置有效
| 申请号： | 202121285001.7 | 申请日： | 2021-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN215866479U | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 鲁业海;熊胜虎;张苏苏;陈坚;朱小芳;万忠;徐清国;王顺;张雯君 | 申请（专利权）人： | 上海太阳能工程技术研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/06 | 分类号： | G01N27/06 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 褚明伟 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及用于银浆与基体间接触电阻测试的探头以及测试装置，用于银浆与基体间接触电阻测试的探头，由同轴探针按照阵列排布而成，所述同轴探针按照阵列排布后的图案覆盖银浆与基体间接触电阻测试的图案。同轴探针包括中心电极以及外部电极，所述中心电极作为电流探针，用于接电源正极或负极，所述外部电极为电压探针，所述外部电极用于连接电压表或电势差测试仪或高精度数字源表。与现有技术相比，本实用新型采用了同轴探针及其组成的探针阵列，有效解决了传统四探针法测量接触电阻中由电极内阻和电流不均匀造成的测量误差过大问题，可实现对银浆与基体间接触电阻进行准确、快速检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 基体 间接 触电 测试 探头 以及 装置 | ||
【主权项】：
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