[实用新型]一种半导体功率模块转接测试结构有效
申请号: | 202121294387.8 | 申请日: | 2021-06-10 |
公开(公告)号: | CN215833546U | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 廖洪志;罗少贞;陆海;郑科科 | 申请(专利权)人: | 绍兴中芯集成电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 绍兴市知衡专利代理事务所(普通合伙) 33277 | 代理人: | 邓爱民 |
地址: | 312000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种半导体功率模块转接测试结构,包括DUT测试板、转接插座以及转接PCB板,转接插座的底面与DUT测试板的顶面接触实现电连接,转接插座的顶面与转接PCB板的底面接触实现电连接,转接PCB板根据被测产品的测试端子进行布线,转接PCB板的上方用于放置被测产品,转接PCB板的顶面设置有连接被测产品测试端子的探针。本实用新型在现有测试设备及DUT测试板基础上,通过与被测产品封装引脚相匹配的转接PCB板来建立被测产品与DUT测试板之间测试信号连接关系,在测试不同类型产品时无需重新设计DUT测试板,只需设计与被测产品配套的转接PCB板即可,测试投入成本可大幅度降低,且整个测试结构杂散影响小。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 功率 模块 转接 测试 结构 | ||
【主权项】:
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