[实用新型]一种半导体功率模块转接测试结构有效

专利信息
申请号: 202121294387.8 申请日: 2021-06-10
公开(公告)号: CN215833546U 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 廖洪志;罗少贞;陆海;郑科科 申请(专利权)人: 绍兴中芯集成电路制造股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04
代理公司: 绍兴市知衡专利代理事务所(普通合伙) 33277 代理人: 邓爱民
地址: 312000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及一种半导体功率模块转接测试结构,包括DUT测试板、转接插座以及转接PCB板,转接插座的底面与DUT测试板的顶面接触实现电连接,转接插座的顶面与转接PCB板的底面接触实现电连接,转接PCB板根据被测产品的测试端子进行布线,转接PCB板的上方用于放置被测产品,转接PCB板的顶面设置有连接被测产品测试端子的探针。本实用新型在现有测试设备及DUT测试板基础上,通过与被测产品封装引脚相匹配的转接PCB板来建立被测产品与DUT测试板之间测试信号连接关系,在测试不同类型产品时无需重新设计DUT测试板,只需设计与被测产品配套的转接PCB板即可,测试投入成本可大幅度降低,且整个测试结构杂散影响小。
搜索关键词: 一种 半导体 功率 模块 转接 测试 结构
【主权项】:
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