[实用新型]一种具有测试件保护结构的双工位测试机有效
| 申请号： | 202121409156.7 | 申请日： | 2021-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN215067028U | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 朱培;韩炳伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市华测半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市海盛达知识产权代理事务所(普通合伙) 44540 | 代理人： | 欧阳士 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区布吉街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种具有测试件保护结构的双工位测试机，包括机体组件、夹持机构和传感器组件，夹持机构，其安装在所述机体组件的内壁下方；传感器组件，其设置在所述机体组件的内壁两侧；升降组件，其设置在所述机体组件的内壁上方；测电组件，其安装在所述升降组件的下方。该具有测试件保护结构的双工位测试机，与现有的普通双工位测试机相比，启动气缸推动导杆座、T形套、弹簧、T形杆和橡胶板移动，随之橡胶板与测试件贴合，将其夹紧，橡胶板配合弹簧吸收部分夹持力度，使得夹持部分具有缓冲吸持力度的作用，即使是夹持硬性较差的测试件，也不会因夹持力度过大导致测试件损坏，能够很好的保护测试件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 测试 保护 结构 双工 | ||
【主权项】：
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