[实用新型]一种集成电路测试用的装置有效

专利信息
申请号: 202121438581.9 申请日: 2021-06-27
公开(公告)号: CN216144884U 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 卓延厚;郎岳 申请(专利权)人: 厦门芯光润泽科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 代理人: 张开
地址: 361000 福建省厦门市火炬高新区*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型公开了一种集成电路测试用的装置,包括集成电路测试仪和顶部为开口设置的防护盒,所述集成电路测试仪位于防护盒内,所述防护盒内设置有与集成电路测试仪相配合的移动收纳机构,所述防护盒上设置有与移动收纳机构相配合的自开式遮挡机构,所述移动收纳机构包括设置在防护盒内的支撑板,集成电路测试仪固定安装在支撑板的顶部。本实用新型设计合理,便于在使用时快速移出集成电路测试仪并同步自动开启两个挡板,且便于在使用后快速对集成电路测试仪收纳防护并同步自动带动两个挡板回转合闭,实现对集成电路测试仪收纳包围挡护的效果,降低使用后携带时其被误碰损伤的风险,满足使用需求,有利于使用。
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 装置
【主权项】:
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