[实用新型]一种用于电子元器件测试的通用测试座有效
申请号: | 202121466606.6 | 申请日: | 2021-06-29 |
公开(公告)号: | CN215066844U | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 云惟耀 | 申请(专利权)人: | 深圳市天易成科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 | 代理人: | 王海骏 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及电子元器件测试技术领域,且公开了一种用于电子元器件测试的通用测试座,包括底座,所述底座内壁后侧设置有一端与其内壁前侧活动连接的驱动组件。该用于电子元器件测试的通用测试座,通过启动伺服电机,伺服电机带动主齿轮旋转,使得与其啮合的两个副齿轮均旋转,使得拉绳收紧或伸长,当拉绳收紧时,两个移动杆相对移动,伸长调节弹簧,两个移动杆通过连接杆带动两个夹持块相对移动,伸长夹持弹簧,此时可固定住尺寸较小的电子元器件,当拉绳伸长时,在调节弹簧和夹持弹簧的弹力作用下,同理使得两个夹持块相背移动,此时可固定住尺寸较大的电子元器件,实现了固定不同尺寸电子元器件的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 电子元器件 测试 通用 | ||
【主权项】:
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