[实用新型]一种微电子封装疲劳试验机有效
| 申请号： | 202121471226.1 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN215574225U | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 麻华丽;李广富;邓修发;杨家辉;孟建超;刘硕;肖昆龙;车世鹏 | 申请（专利权）人： | 郑州航空工业管理学院 |
| 主分类号： | G01N3/04 | 分类号： | G01N3/04;G01N3/08 |
| 代理公司： | 深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728 | 代理人： | 刘英 |
| 地址： | 450000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测试计量仪器领域，具体是一种微电子封装疲劳试验机，包括：底座，支撑机构，所述支撑机构与所述底座相连；以及固定拉伸机构，所述固定拉伸机构设于所述支撑机构与所述底座之间；其中，所述支撑机构包括：放置组件，所述放置组件与所述底座相连；升降组件，所述升降组件设于所述放置组件与所述底座之间；传动组件，所述传动组件设于所述放置组件与所述固定拉伸机构之间，通过设置支撑机构和固定拉伸机构，利用支撑机构与所述固定拉伸机构配合可以对位于装置内的微电子封装器件实现有效固定，保证了微电子封装器件在测试时的稳定性，进而保证测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微电子 封装 疲劳 试验 | ||
【主权项】：
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