[实用新型]一种芯片老化测试装置有效
| 申请号： | 202121606041.7 | 申请日： | 2021-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN214953948U | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 胡志东 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯海微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙) 44777 | 代理人： | 王再兴 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种芯片老化测试装置，涉及芯片检测设备技术领域，包括工作台、设置在工作台上的支架和设置在支架上可升降的检测头，还包括设置在工作台上的芯片盒，芯片盒位置与检测头相对应，所述芯片盒包括盒体、设置在盒体上的放置槽、设置在放置槽一端的推板、设置在推板与放置槽侧壁之间的复位弹簧和滑动设置在放置槽另一端的抽斗，所述推板借助复位弹簧具有水平移动的自由度，所述抽斗一端位于盒体外、另一端由盒体一侧贯穿于盒体内，抽斗上设置有检测槽、朝向推板的一端设置有开口且开口与检测槽连通，开口与芯片大小适配，本实用新型明显提高了芯片的监测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市芯海微电子有限公司，未经深圳市芯海微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202121606041.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种自动焊接机
- 下一篇：一种具有液冷散热功能的电气控制柜
