[实用新型]一种多工位半导体光电器件生产用点触式检测装置

摘要

本实用新型涉及检测装置技术领域，公开了一种多工位半导体光电器件生产用点触式检测装置，包括检测装置和检测装置上端设置的一对线束，线束一端连接有第二测试笔，另一组线束一端连接有第一测试笔，第一测试笔一端设置有导电头，导电头一端设置有连接有连接头，连接头两端轴接有连接片，连接片下端设置有底板，底板底面开设有伸缩孔，伸缩孔内腔设置有伸缩柱，伸缩柱上端与伸缩孔内腔顶壁之间设置有复位弹簧，相邻伸缩孔之间等距均匀开设，从而方便第二测试笔点触半导体光电器件的引脚通电检测，且底板底面设置的多组伸缩柱能够对不同尺寸的半导体光电器件进行固定。