[实用新型]一种用于光学跟踪系统精度检测的工装有效

专利信息
申请号: 202121865848.2 申请日: 2021-08-11
公开(公告)号: CN215810673U 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 何万亮;陈向前;安学亮;史纪鹏;张强强;陈小刚 申请(专利权)人: 真健康(北京)医疗科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京力致专利代理事务所(特殊普通合伙) 11900 代理人: 朱静谦
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔和第二基准孔。第一基准孔和第二基准孔作为基准测量孔,两者之间的距离确定,将两者之间的加工距离作为基准尺寸;当下一次的光学跟踪系统在使用时,基于光学跟踪系统的成像原理测量出小孔在工装本体上成像的两个点之间的测量尺寸,将测量尺寸和基准尺寸进行对比,就可以确定出光学跟踪系统的测量精度;工装在使用过程中简单、便捷,可以作为后续测量尺寸的对比基准,以此能够快速对光学跟踪系统的精度进行检测,从而验证是否满足手术导航定位设备整体精度需求。
搜索关键词: 一种 用于 光学 跟踪 系统 精度 检测 工装
【主权项】:
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