[实用新型]一种薄膜电容性能测试装置有效
| 申请号： | 202122109424.X | 申请日： | 2021-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN215415698U | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 蒲朝里;江之奎;张建保;谭兴川;罗军;江瀛 | 申请（专利权）人： | 成都通用整流电器研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/64 |
| 代理公司： | 成都厚为专利代理事务所(普通合伙) 51255 | 代理人： | 王杰 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种薄膜电容性能测试装置，包括：电源单元，用于产生主电路电压和控制电压；储能单元，与所述电源单元电性连接，用于对所述主电路电压进行储能；充电单元，与所述储能单元电性连接，用于对被测电容进行充电；放电单元，与所述充电单元电性连接，用于对所述被测电容进行放电；信息采集单元，用于采集所述被测电容的充电信息；控制单元，与所述电源单元、信息采集单元、充电单元和放电单元电性连接，用于获取所述被测电容的充电信息，并生成充电控制信号和放电控制信号。本实用新型的测试装置的测试功能齐全，可进行老化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 电容 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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