[实用新型]一种TF卡存储器组合测试架有效

专利信息
申请号: 202122159728.7 申请日: 2021-09-08
公开(公告)号: CN216014820U 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 李锦光 申请(专利权)人: 广东全芯半导体有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 广州名扬高玥专利代理事务所(普通合伙) 44738 代理人: 赵丽
地址: 523808 广东省东莞市东莞松山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种TF卡存储器组合测试架,包括架体,所述架体的上表面设置有显示屏与触控板,所述架体的上表面开设有第一卡槽,所述第一卡槽的内部设置有磁吸条,所述第一卡槽的表面开设有测试槽,所述测试槽的数量为多个,多个所述测试槽的内部均设置有检测引脚,所述架体的上部还设置有盖板;本实用通过设置的测试槽以及相匹配的辅助结构,提供了按压的槽口式固定结构,采用凹槽限位,顶部按压的结构进行固定,通过金属条与磁吸条之间的磁性吸附进行稳定,并且外部结构均采用绝缘塑料,有效避免金属材料以及磁性材料造成的影响,整体结构安装更加方便,避免了插接式或者卡扣时结构对TF卡造成的损坏。
搜索关键词: 一种 tf 存储器 组合 测试
【主权项】:
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