[实用新型]一种SMA封装二极管性能测试装置有效
| 申请号： | 202122288578.X | 申请日： | 2021-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN215894830U | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 姚瑶 | 申请（专利权）人： | 德欧泰克半导体（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海助之鑫知识产权代理有限公司 31328 | 代理人： | 王风平 |
| 地址： | 201505 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种SMA封装二极管性能测试装置，涉及二极管检测技术领域，所述SMA封装二极管性能测试装置包括底座、输送机构和检测机构；所述输送机构包括固定在底座上的安装座；安装座上固定连接有第一转轴；第一转轴转动连接第一旋转盘；第一旋转盘上设有带槽；带槽内连接有输送带；输送带的中间等间距的设有多个固定块；固定块上设有卡槽；卡槽内卡接有SMA封装二极管；固定块上方的输送带上等间距的设有多个限位孔；带槽内设有与限位孔对应的限位销；所述输送带连接驱动装置。本实用新型的一种SMA封装二极管性能测试装置可以自动完成SMA封装二极管的检测；检测效率高；运行平稳。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sma 封装 二极管 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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