[实用新型]一种用于片式元件的测试装置有效

专利信息
申请号: 202122383123.6 申请日: 2021-09-29
公开(公告)号: CN216117714U 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 林泽清;杨建益;严勇;陈冬梅;郑金兰 申请(专利权)人: 福建毫米电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R27/02
代理公司: 泉州君典专利代理事务所(普通合伙) 35239 代理人: 陈德阳
地址: 362000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型提供一种用于片式元件的测试装置,包括绝缘座、设置在绝缘座上的定位槽、与绝缘座间隔布置的支架、可上下滑动地设置在支架上的针座、上下贯穿针座设置的测试探针、通过引线与测试探针连接的测试工具、可转动地设置在支架上的转动轮、两端分别可转动地连接在转动轮与针座之间的曲柄和设置在转动轮上的限位机构,片式元件放置在定位槽内,针座位于定位槽上方,转动轮转动时通过曲柄带动针座上下滑动,限位机构限制针座的滑动行程,针座滑动至最下端时,测试探针与片式元件的电极接触,即可进行测试。本实用新型能够方便地对片式元件进行测试,有效提高测试准确性和测试效率。
搜索关键词: 一种 用于 元件 测试 装置
【主权项】:
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