[实用新型]数字集成电路通用测试装置有效
| 申请号： | 202122567921.4 | 申请日： | 2021-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN216560878U | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 赖邵冕;张峰;郭嘉萍 | 申请（专利权）人： | 中国航空无线电电子研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 | 代理人： | 杜林雪 |
| 地址： | 200233 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型揭示了一种数字集成电路通用测试装置，所述数字集成电路通用测试装置包括一底板，并且底板设有用于与待测集成电路连接并固定待测集成电路的插座，其特征在于：所述底板设有用以与外部测试设备连接的连接接口，并且所述底板在插座侧边设有排针母座，并且所述排针母座的接脚与所述连接接口的接脚一一对应连接，同时所述底板上还设有电源接口与接地接口，并且所数字集成电路通用测试装置还包括多个线带插针，所述线带插针一端与所述的电源接口或接地接口连接，另一端与排针母座与待测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。 | ||
| 搜索关键词： | 数字集成电路 通用 测试 装置 | ||
【主权项】：
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