[实用新型]测试电路板及测试设备有效
申请号: | 202122577295.7 | 申请日: | 2021-10-25 |
公开(公告)号: | CN216528043U | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 孙成思;孙日欣;刘小刚 | 申请(专利权)人: | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;H05K1/11;H05K1/18 |
代理公司: | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人: | 隆毅 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开一种测试电路板,适用于测试BGA SSD,该测试电路板包括基板和电源模块;所述基板至少包括层叠设置的布线层和导电层,所述布线层上设有第一导电通孔组和第二导电通孔组,所述第一导电通孔组和所述第二导电通孔组通过所述导电层电导通;所述电源模块设于所述布线层远离所述导电层的一表面并覆盖所述第一导电通孔组,所述第一导电通孔组与所述电源模块电连接,所述第二导电通孔组用于连接所述布线层上的电子元件。本实用新型测试电路板适用于测试BGA SSD,其减少了电源模块与其它电子元件在布线层上的走线长度,可有效的降低测试BGA SSD时的噪声,从而提供较佳的测试环境,保证测试结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | 测试 电路板 设备 | ||
【主权项】:
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