[实用新型]凸台式键盘按键接触点测试结构有效
| 申请号： | 202122591517.0 | 申请日： | 2021-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN218630141U | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 赖贵城 | 申请（专利权）人： | 深圳安格仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/66 | 分类号： | G01R31/66 |
| 代理公司： | 深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728 | 代理人： | 刘英 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙华区龙华*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及键盘按键接触点测试的技术领域，公开了凸台式键盘按键接触点测试结构，包括凸台、载板和键盘按键导电膜，凸台与载板呈连接布置，键盘按键导电膜具有多个键盘按键接触点，键盘按键接触点用于使电路导通，键盘按键接触点受压实现测试，键盘按键导电膜铺设载板布置，凸台朝向键盘按键导电膜方向呈凸起布置，键盘按键接触点与凸台呈上下对应且抵触布置。凸台与键盘按键接触点呈对应布置，在凸台与键盘按键导电膜的配合作用下，有助于增加测试准确性及更容易测试，并且，在凸台的作用下，使得测试所需的重量更准确反馈，不容易受面积应力干扰和影响，便于反馈信号的接收，便于键盘按键接触点的测试，提高键盘按键接触点的测试精准性。 | ||
| 搜索关键词： | 台式 键盘 按键 接触 测试 结构 | ||
【主权项】：
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