[实用新型]一种用于测量横截面的测量装置及测量系统有效

专利信息
申请号: 202122603536.0 申请日: 2021-10-27
公开(公告)号: CN216115908U 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 刘波;黄建超;刘俊峰;张玉俏;张三星;郝磊 申请(专利权)人: 天津泰格瑞祥仪器设备有限公司
主分类号: G01B11/28 分类号: G01B11/28;G01B11/02;G01B11/06
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 芦玲玲
地址: 301906 天津市蓟*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型涉及一种用于测量横截面的测量装置及测量系统,测量装置包括厚度测量组件、宽度测量组件以及滑动组件;厚度测量组件与宽度测量组件沿着滑动组件的延伸方向间隔设置,厚度测量组件用于采集拉伸试样的多个位置处的厚度数据;宽度测量组件用于采集拉伸试样的多个位置处的图像数据;滑动组件包括滑道机构以及夹紧机构,夹紧机构与滑道机构可滑动连接,夹紧机构用于夹紧拉伸试样,夹紧机构带着拉伸试样沿着滑道机构滑动,以使拉伸试验依次滑过厚度测量组件与滑动组件;通过设置厚度测量组件与宽度测量组件,在对拉伸试样的测量过程中,采用非接触式、全自动测量,由此,提高了测量精度和测量效率。
搜索关键词: 一种 用于 测量 横截面 装置 系统
【主权项】:
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