[实用新型]功耗测试装置有效
| 申请号： | 202122705445.8 | 申请日： | 2021-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN216351077U | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 吴建平;江健涛;李盟 | 申请（专利权）人： | 合肥格易集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R21/06 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 230601 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种功耗测试装置，包括：电压输入装置、中央处理装置、采样装置、以及外设选择装置，其中，电压输入装置与被测芯片电连接，用以向被测芯片的电源管脚提供目标电压，外设选择装置与被测芯片以及中央处理装置电连接，用以根据来自中央处理装置的控制信号，而使被测芯片与至少一个外设电路电连接，采样装置设置在电压输入装置与电源管脚之间，用以在进行功耗测试的过程中，将获取的被测芯片的通路电流或通路电压发送至中央处理装置，本实用新型提供的功耗测试装置，由于具有与外设电路电连接的外设选择装置，因而可以在被测芯片挂载不同外设的情况下，对被测芯片的功耗进行准确的测试以及记录。 | ||
| 搜索关键词： | 功耗 测试 装置 | ||
【主权项】：
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