[实用新型]具有降噪结构的集成电路测试机有效
| 申请号： | 202123001741.6 | 申请日： | 2021-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN216361839U | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 彭晓魂;张保平 | 申请（专利权）人： | 深圳市育诚先进半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 刘曰莹;彭涛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种具有降噪结构的集成电路测试机，包括检测台，所述检测台的顶端设置有夹持装置，所述检测台的顶端一侧对称设置有提升支架，所述提升支架的相对内侧滑动连接有复合隔音门；通过在检测台的顶端设置的夹持装置，将集成电路板放在检测台的顶端后，启动夹持装置中的夹持马达，夹持马达带动两驱动端固定连接的夹持螺杆开始旋转，夹持螺杆带动外侧螺纹连接的夹持板开始旋转，夹持板就会做相对运动，使其夹持集成电路板的两侧，在夹持板的相对内侧设置有压力传感器，压力传感器可以检测夹持板对集成电路板两侧施加的压力，当压力达到一定值时停止夹持，这样可以达到固定集成电路板的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 结构 集成电路 测试 | ||
【主权项】：
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