[实用新型]一种纳米涂层膜厚检测装置有效
申请号: | 202123029731.3 | 申请日: | 2021-12-03 |
公开(公告)号: | CN216283380U | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 曹丛;李凤霞;张瑞锋;刘继义;赵东升;王新军;王磊 | 申请(专利权)人: | 山东省计量科学研究院 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 安徽思沃达知识产权代理有限公司 34220 | 代理人: | 赵晶莹 |
地址: | 250014 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种纳米涂层膜厚检测装置,涉及纳米涂层技术领域,包括工作台,所述工作台的上端开设有第一凹槽和第二凹槽,所述第二凹槽的内部固定连接有第二移动机构,所述第一移动机构的上端固定连接有压紧机构,所述工作台的前端设置有控制面板。本实用新型提供有第一移动机构、第二移动机构和压紧机构,将装置内部增加两组移动结构,一组控制检测仪的位置移动,另一组控制载板的前后移动,两组配合使用可以实现不同位置的移动,方便对纳米涂层膜进行不同位置的厚度检测,同时可以通过压紧机构将纳米涂层膜的两侧进行夹持,防止在检测时出现位置的偏移,可以提高检测的精度,使得装置使用起来更加方便快捷,大大提高了实用性。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 涂层 检测 装置 | ||
【主权项】:
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