[实用新型]一种大容量芯片测试装置有效
| 申请号： | 202123078108.7 | 申请日： | 2021-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN216670188U | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 艾育林 | 申请（专利权）人： | 江西万年芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人： | 刘凌峰 |
| 地址： | 334000 江西省上饶市万年县高*** | 国省代码： | 江西;36 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其为一种大容量芯片测试装置，包括底板，所述底板的端面设置有检测台，所述检测台的端面中心设置有卡槽，所述卡槽的内部设置有芯片安装台，所述检测台的正面设置有水平仪，所述检测台的端面并且基于卡槽对称设置有安装孔，所述安装孔的内部设置有导柱导套，所述导柱导套的上方设置有压块，本实用新型通过在检测台上设置水平仪，能够保证检测台的水平，同时利用卡槽与芯片安装台的卡接，芯片安装台的端面设置有芯片槽，使得电极块的探针能够更加准确的接触芯片，提高了装置的准确度，保证了检测探针与芯片的稳定接触。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 容量 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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